|
There are no translations available.
Podstawowe cechy mikroskopu TESCAN VEGA II XM: Nowoczesna optyka unikalny, czterosoczewkowy system Wide Field OpticsTM oferujący szerokie możliwości pracy i wyświetlania obrazu opatentowana soczewka pośrednia (IML) zmieniająca aperturę i powodująca zmianę efektywnej apertury końcowej w sposób elektromagnetyczny konstrukcja kolumnowa, bez mechanicznych elementów centrujących, pozwalająca na w pełni automatyczne auto-centrowanie układu wiązki mikroskopu
Potencjał analityczny bardzo duża komora pomiarowa mogąca pomieścić próbki o średnicy do 250 mm mocny 5-osiowy stolik automatyczny o ładowności do 8 kg (17,6 lb) 9 portów w komorze pomiarowej z optymalną geometrią analityczną dla EDX, WDX oraz EBSD wysokie współczynniki szybkości obrazowania dzięki pierwszej klasy detektorom opartym na strukturach YAG - obszerny wybór opcjonalnych detektorów oraz akcesoriów
szybki i prosty system uzyskiwania próżni w komorze dzięki pompom: rotacyjnej i turbomolekularnej mozliwość wykonywania pomiarów 3D na zrekonstruowanej powierzchni powstałej za pomocą specjalistycznego oprogramowania 3D
Zautomatyzowane analizy szybki i precyzyjny rozbudowany stolik sterowany komputerowo odpowiedni do zastosowań w różnych zautomatyzowanych analizach komunikacja z innymi urządzeniami zewnetrznymi przez interfejs TCP/IP (np. zautomatyzowane analizy EDX) rozszerzenia oprogramowania dla analiz cząsteczkowych, wielkopowierzchniowego obrazowania oraz analiz morfologicznych
Kontrola przyjazna dla użytkownika wieloużytkownikowe środowisko dostępne w licznych językach trzy poziomy zaawansowania użytkowników, włącznie z EasySEM dla użytkowników niedoświadczonych wbudowany system zarządzania obrazami i tworzenia raportów możliwość pracy sieciowej oraz zdalnej pracy i diagnostyki pneumatyczny (lub opcjonalnie aktywny) system izolacji drgań redukujący wpływ drgań otoczenia optymalny stosunek jakości do ceny nawet dla wymagajacych użytkowników
Warianty mikroskopu VEGA II XM Ze względu na system próżniowy mikroskopy VEGA II SM dzielą się na: VEGA II XMH - wersja wysokopróżniowa odpowiednia do badań próbek przewodzących VEGA II XMU - zmiennociśnieniowy SEM łączący zalety modelu wysokopróżniowego i możliwości niskopróżniowych badań nieprzewodących próbek w ich naturalnym stanie (bez pokrycia)
Specyfikacja techniczna mikroskopu Kolumna: | Działo elektronowe: | katoda wolframowa | | Rozdzielczość (SE): | 3 nm przy 30 kV
8 nm przy 3 kV | | Rozdzielczość - niska próżnia (BSE): | 3,5 nm przy 30 kV | | Powiększenie: | 4 x - 1 000 000 x | | Napięcie przyspieszające: | 200 V - 30 kV | | Prąd próbki: | 1 pA - 2 μA |
Komora pomiarowa: | Wymiary wewnętrzne: | 300 mm x 330 mm | | Wymiary drzwi komory: | 280 mm x 310 mm | | Ilość portów do instalacji dodatkowych akcesoriów: | 9 | | Zawieszenie komory: | pneumatyczny lub opcjonalnie aktywny system tłumienia drgań |
Próżnia pracy: | Tryb wysokiej próżni: | < 1 x 10-2 Pa | | Średnia próżnia (XMU): | 3 - 150 Pa | | Niska próżnia (XMU): | 3 - 500 Pa (opcjonalnie do 2000 Pa) |
Stolik: | Typ: | kompucentryczny | | Przesuwy: | X = 130 mm (automatyczny)
Y = 130 mm (automatyczny)
Z = 100 mm (automatyczny)
Obrót: 360o (ciągły automatyczny)
Pochylenie: -20o - +80o (automatyczny) | | Maksymalna wysokość próbki: | 143 mm |
|
Broszura TESCAN VEGA II XM