|
Skaningowa Mikroskopia Elektronowa |
 |
 |
 |
|
There are no translations available.
Oferujemy mikroskopy skaningowe elektronowe oraz szereg dodatkowych akcesoriów analitycznych i pomocniczych zarówno do nowych mikroskopów jak i starszych modeli SEM. Współpracujemy z następującymi dostawcami urządzeń: TESCAN - producent Skaningowych Mikroskopów Elektronowych, systemów FIB oraz oprogramowania i akcesoriów OXFORD INSTRUMENTS - producent systemów mikroanalizy rentgenowskiej typu EDS, WDS oraz systemów EBSD KE Development - producent detektorów (BSE, CL) oraz dodatkowego wyposażenia(kamery podglądu komory itp.) do dowolnych - także już nieco starszych - mikroskopów elektronowych
Pełna lista oferowanych przez nas urządzeń oraz rozwiązań: - Skaningowe mikroskopy elektronowe klasyczne i wysokorozdzielcze (emisja polowa)
- Systemy FIB (Focused Ion Beam) służące do obróbki powierzchni, litografii, nanoszenia warstw
- Detektory i akcesoria do mikroskopów elektronowych takie jak detektory SE (secondary electrons), BSE (Backscatter electrons), CL (katodoluminescencja), TE (elektronów przechodzących), EBIC (obrazowanie na podstawie własności elektrycznych powierzchni), kamery podglądu komory, stoliki zamrażające, stoliki grzejące, układy analizy naprężeń, specjalne uchwyty, porty do montażu akcesoriów w mikroskopach, manipulatory i nanomanipulatory
- Akcesoria analityczne do skaningowych mikroskopów elektronowych, takie jak:
- mikroanalizatory rentgenowskie EDS i WDS do oznaczania jakościowego i ilościowego składu chemicznego na obserwowanych powierzchniach
- systemy dyfrakcji elektronów EBSD służące do pomiarów parametrów krystalograficznych, rozróżniania faz, analizę defektów struktur krystalicznych
- sprzężone systemy SEM/EDS do oznaczania dystrybucji cząstek pochodzących np. z filtrów na podstawie ich cech morfologicznych oraz składu chemicznego
- sprzężone systemy SEM/EDS stosowane w badaniach kryminalistycznych
- systemy mikrofluorescencji rentgenowskiej instalowane na mikroskopach skaningowych pozwalające analizować skład chemiczny próbek dla niskich zawartości pierwiastków
- Oprogramowanie do analizy obrazów w mikroskopie elektronowym lub optycznym: pomiary odległości, powierzchni, cech morfologicznych obiektów, rozróżnianie i liczenie obiektów na podstawie ich cech związanych z kształtem, własnościami powierzchniowymi, składem chemicznym
- Oprogramowanie do tworzenia skalibrowanych obrazów trójwymiarowych z mikroskopów elektronowych, optycznych i AFM
- Oprogramowanie do automatycznego zliczania cząstek z wielokrotnych pól widzenia mikroskopu
- Oprogramowanie do litografii elektronowej w mikroskopach SEM
|
